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一种芯片的批量测试方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-05-25 发布于四川
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一种芯片的批量测试方法及系统.pdf

    本发明公开了一种芯片的批量测试方法及系统，包括：步骤S300主控芯片通过数据信号总线向待检测芯片的第一总线端口发送检测指令信息；步骤S400所述待检测芯片通过所述第一总线端口接收所述主控芯片发送的所述检测指令信息；步骤S500所述待检测芯片根据第一预设地址信息，向所述主控芯片发送响应指令；步骤S600所述主控芯片根据所述第一预设地址信息的所述响应指令判断所述待检测芯片的工作状态；当异常时，执行步骤S700；步骤S700利用同一所述第一预设地址信息中的所述待检测芯片替换异常的所述待检测芯片。实现对

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 106646186 A (43)申请公布日 2017.05.10 (21)申请号 20161

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