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用于测量电子装置的工作参数的设备及其测量方法.pdfVIP

用于测量电子装置的工作参数的设备及其测量方法.pdf

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    一种用于测量电子装置的工作参数的设备，所述设备包括：壳体；容纳在壳体中的电流测量模块、温度测量模块和计算控制模块；温度测量模块用于测量电子装置的绝对温度和环境温度并且将测量到的绝对温度和环境温度的数值发送给计算控制模块；电流测量模块用于测量电子装置的电流并且将测量到的电流的数值发送给计算控制模块；电子装置具有绝对温度阈值；所述电子装置具有与测量到的电流相对应的温升阈值；计算控制模块判断绝对温度的数值是否超出绝对温度阈值；计算控制模块基于绝对温度与环境温度计算电子装置的实际温升；计算控制模块判断实

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112304360 A (43)申请公布日 2021.02.02 (21)申请号 20191

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