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一种集成电路自动控制测试方法.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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一种集成电路自动控制测试方法.pdf

    本发明公开了一种集成电路自动控制测试方法，为一种机械结构和算法的结合，首先需要对handler内部进行结构的改造，增加失效复测区(E)和一移动机械臂(F)，将需要复测的BIN放置由原来位置移动到失效复测区域，在完成第一次测试后，将失效复测区域的芯片通过机械臂又放置在待测区域，从而实现自动复测的目的，减少人工重新放置和测试机停机的时间。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112379244 A (43)申请公布日 2021.02.19 (21)申请号 202011206894.1 (22)申请日 2020.11.03 (71)申请人 上海华岭集成电路技术股份有限公

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