1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.55万字
  • 约 13页
  • 2023-05-28 发布于四川
  • 举报

缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质.pdf

    本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及人工智能技术领域，尤其涉及深度学习、图像处理和计算机视觉等领域。具体实现方案为：采集预取向丝POY产品的N个局部图像，N为不小于2的整数；采用缺陷检测模型针对N个局部图像中的每个局部图像分别进行缺陷检测，得到每个局部图像的缺陷检测结果；基于每个局部图像的缺陷检测结果，得到POY产品的缺陷检测结果。本公开可提升对POY产品的缺陷检测效率。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116167992 A (43)申请公布日 2023.05.26 (21)申请号 202310117249.X (22)申请日 2023.02.02 (71)申请人 北京百度网讯科技

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >