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一种PCIE卡异步高性能测试方法和系统.pdfVIP

一种PCIE卡异步高性能测试方法和系统.pdf

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    本发明提供一种PCIE卡异步高性能测试方法和系统。该方法包括：将PCIE卡通过物理接口插接于测试主机上，PCIE卡包括n个DMA高速通道、q个BAR低速通道以及配置空间；测试主机启动PCIE卡配置空间监控线程；测试主机基于DMA高速通道的数量n启动n个DMA测试线程组，并基于BAR低速通道的数量q启动q个BAR测试线程组；通过n个DMA测试线程组异步测试各个DMA高速通道处理数据的准确性，并通过q个BAR测试线程组异步测试各个BAR低速通道处理数据的准确性；在n个DMA测试线程组和q个BAR测试

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112416683 B (45)授权公告日 2022.02.11 (21)申请号 202011362795.2 (51)Int.Cl.

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