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一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置.pdfVIP

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  • 2023-05-29 发布于四川
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一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置.pdf

    本申请涉及一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置，涉及半导体存储器测试技术领域，该方法包括以下步骤：根据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合；根据半导体存储器的参数信息，设定多组预设错误数量组合；分别根据各预设错误数量组合配置半导体存储器，利用各测试参数组合测试配置后的各半导体存储器，并将各自对应的测试结果与对应的预设错误数量组合比对，验证各测试参数组合是否合理。本申请对测试参数进行合理设定并组合，对半导体存储器的坏块情况进行模拟，利用高效的验证方式对不同的测试参数组合进行验证，以求

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112397136 B (45)授权公告日 2021.05.14 (21)申请号 202110082956.0 (56)对比文件

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