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处理器性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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处理器性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf

    本发明实施例提供一种处理器性能评估方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：获取目标程序对应的分支预测组件的第一性能曲线和所述目标程序对应的缓存组件的第二性能曲线；根据第一性能曲线确定所述目标程序对应的分支预热长度，并根据所述第二性能曲线确定所述目标程序对应的缓存预热长度；基于所述分支预热长度和所述缓存预热长度生成所述目标程序的预热画像；根据所述预热画像分别对所述缓存组件和所述分支预测组件进行预热处理，得到所述缓存组件对应的第一状态信息和所述分支预测组件对应的第二状态信息；基于所述第一状态

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115658455 A (43)申请公布日 2023.01.31 (21)申请号 202211564283.3 (22)申请日 2022.12.07 (71)申请人 北京开源芯片研究院 地址 1000

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