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本发明涉及一种基于调制光热辐射的复合绝缘子老化程度改进检测方法，所述方法采用调制光热辐射技术分别测量复合绝缘子表面老化层区域及去除表面老化层后暴露的内部未老化层的热扩散率，利用测量的表面老化层热扩散率与内部未老化层热扩散率的比值判断复合绝缘子的老化程度。本方法克服了不同规格、型号复合绝缘子的初始热扩散率存在差别且缺乏准确数据对采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度检测方法的影响，提高了采用热扩散特性评估复合绝缘子老化程度的检测精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112432969 B
(45)授权公告日 2022.04.08
(21)申请号 202011227738.3 CN 109406570 A,2019.03.01
(22)
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