一种基于非理想sinc核的FRI采样系统及方法.pdfVIP

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2023-05-30 发布于四川
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一种基于非理想sinc核的FRI采样系统及方法.pdf

一种基于非理想sinc核的FRI采样系统，通过引入基信号h(t)，将待测信号x(t)和基信号通过本发明方法的系统，可以获取相应的采样样本；对两次测试得到的采样样本进行计算推导，可以将滤波器的非理想效应消除；采样样本中含有待测信号x(t)的少量离散的傅里叶系数，用过这些系数可以重构出待测信号，并可以很大幅度的提高重构精度。以及提供一种基于非理想sinc核的FRI采样方法。本发明改进之后的FRI采样系统比FRI采样系统重构精度大大提高，抗噪声能力也有很大提高。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112468114 A (43)申请公布日 2021.03.09 (21)申请号 202011099811.3 (22)申请日 2020.10.14 (71)申请人浙江工业大学地址

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