基于光度立体与深度学习算法的缺陷检测方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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基于光度立体与深度学习算法的缺陷检测方法及装置.pdf

本发明公开了一种基于光度立体与深度学习算法的缺陷检测方法及装置,涉及缺陷检测领域,通过获取不同光照方向下的待测物体的表面图像,且每个表面图像上同一位置的像素点对应物体上的同一个位置坐标;将不同光照方向下的待测物体的表面图像输入光度立体图生成模型,通过特征提取与特征匹配,并将不同光照方向下的待测物体的表面图像进行特征融合,生成待测物体的光度立体图;将光度立体图输入目标检测模型,得到待测物体的缺陷检测结果。该方法将不同光照方向下的表面图像特征融合而成的光度立体图输入到目标检测模型中进行缺陷检测,解决

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115656189 A (43)申请公布日 2023.01.31 (21)申请号 202211588775.6 G06V 10/766 (2022.01)

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