一种磁芯加工位移检测系统.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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本发明提供一种磁芯加工位移检测系统,它包括有运算放大器、发光二极管、光敏晶体管,其中,发光二极管、光敏晶体管设置在待检磁芯两侧,发光二极管一端与第一电阻一端连接,第一电阻另一端依次与第二电阻、第三电阻、运算放大器连接后输出,发光二极管另一端依次与光敏晶体管、第五电阻、运算放大器连接后输出。采用本方案后的检测效果好、自动化程度高。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112444204 A (43)申请公布日 2021.03.05 (21)申请号 202011366321.5 (22)申请日 2020.11.29 (71)申请人 娄底市利通磁电科技有限公司

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