具有受控的压力斜坡的测量系统.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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一种测量系统及其制造方法可以包括:耐压结构;压力引发器,该压力引发器联接到该耐压结构,该压力引发器具有接合构型,该压力引发器的接合构型会增加施加在用户与该耐压结构接触的部位上的压力;光源,该光源联接到该耐压结构;光学传感器,该光学传感器联接到该耐压结构,并且被配置用于检测来自该光源的信号;压力传感器,该压力传感器联接到该耐压结构,该压力传感器被配置用于检测施加在该用户与该压力引发器接触的部位上的压力;以及处理器,该处理器联接到该光学传感器和该压力传感器,该处理器被配置用于将来自该光学传感器的容积

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112450906 A (43)申请公布日 2021.03.09 (21)申请号 202010934199.0 (22)申请日 2020.09.08 (30)优先权数据 62/897,63

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