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电子产品寿命评估和测试方法、设备及可读存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-31 发布于四川
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电子产品寿命评估和测试方法、设备及可读存储介质.pdf

    本发明公开了一种电子产品寿命评估和测试方法，包括：当电解电容上电工作超过第一预设时间后，获取电解电容的状态测量值，状态测量值包括外壳温度测量值或交流纹波电流测量值；当电解电容的总工作时间处于预设时段内，且上电工作超过第二预设时间后，定时更新电解电容的状态标准值，状态标准值包括外壳温度标准值或交流纹波电流标准值；当电解电容的总工作时间超过预设时段后，定时将电解电容的状态测量值与状态标准值进行比较，生成状态百分比值，并通过LED指示灯对外发送状态百分比值。本发明还公开了一种计算机设备及计算机可读存储

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112505443 B (45)授权公告日 2022.07.15 (21)申请号 202011116776.1 (51)Int.Cl.

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