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本发明公开了一种探针及测试装置，用以测试一芯片，其中该探针设置于一测试座的一安装孔中，该探针呈薄片状并以导电材质制成，且包含一基部、一缓冲部及一接触部。该基部是位于该安装孔内且卡合于该测试座上，该缓冲部是位于该安装孔内且由该基部一体向外呈螺旋状延伸，而该接触部是位于该安装孔内并由该缓冲部一体延伸而与该基部互相间隔，且该接触部末端突出于该安装孔外而伸置于测试空间内。该探针一体成型，可以减少阻抗与噪声，并使包含该探针的测试装置降低制造成本并提高组装便利性。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112526178 A
(43)申请公布日
2021.03.19
(21)申请号 20191
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