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本发明涉及集成电路的引线框架制备,具体涉及一种基于刻蚀工艺的引线框架制备方法,以解决现有刻蚀法加工过程中的光刻胶只能一次性使用,使得生产成本过高的技术问题。本发明引线框架制备方法包括:将金属薄板或聚合物薄膜材料加工成引线框架图形的掩模板,掩模板的一面涂布PDMS等粘性聚合物材料;将掩模板带有粘性聚合物材料的一面与待刻蚀铜基材紧密贴合,在真空中压紧;放置于温度为40~100℃、浓度为0.1g/ml~0.6g/ml的FeCl3溶液中进行刻蚀;将刻蚀好的铜基材从掩模板上取下,得到需要的引线框架。本发明
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112490131 A
(43)申请公布日 2021.03.12
(21)申请号 202011357077.6
(22)申请日 2020.11.27
(71)申请人 西安交通大学
地址
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