- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明涉及智能决策技术,揭露了基于大数据的集成电路实验方法及装置,所述方法包括:对集成电路进行器件检测,得到电路器件,计算电路器件中每个器件的实验优先级;获取集成电路的电路图,确定电路器件中每个器件对应的逻辑关系,查询电路器件中每个器件的器件功能,确定集成电路的逻辑功能;根据逻辑功能,创建电路器件的实验项目,获取集成电路的历史实验数据,以计算实验项目中每个项目的故障概率,基于故障概率和实验优先级,确定电路器件的实验次序;对集成电路进行功能实验,得到实验数据,将实验数据与预设的常规数据进行比对,得
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115792584 A
(43)申请公布日 2023.03.14
(21)申请号 202310069726.X
(22)申请日 2023.02.07
(71)申请人 青岛青软晶尊微电子科技有限公司
地址
原创力文档


文档评论(0)