一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法.pdfVIP

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2023-06-01 发布于四川
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一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法.pdf

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本发明提供了一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法，该测试系统包括上位机和测试板；上位机负责流程控制和数据处理；测试板包括控制处理FPGA、配置FLASH、DDR存储器以及被测FPGA；测试板负责完成被测FPGA的配置，同时完成被测FPGA结温和工作电流的监测，最终得到被测FPGA指定结温条件下闩锁阈值。本发明通过将被测FPGA配置成移位寄存器链功能进行自加热，充分利用被测FPGA内部集成的温度监测器持续监测被测FPGA结温，达到指定结温条件后，控制处理FPGA实时监测被测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112557885 A (43)申请公布日 2021.03.26 (21)申请号 202011451798.3 (22)申请日 2020.12.09 (71)申请人北京时代民芯科技有限公司