一种历史缺陷用例赋能的SMT求解器缺陷检测方法.pdfVIP

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  • 2023-06-01 发布于四川
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一种历史缺陷用例赋能的SMT求解器缺陷检测方法.pdf

本发明提供了一种历史缺陷用例赋能的SMT求解器缺陷检测方法,主要步骤:1)从求解器的缺陷追踪系统中自动化收集历史缺陷用例;2)提取历史缺陷用例中逻辑公式的骨架结构(即公式中逻辑连接词构成的逻辑结构)以及原子公式;3)对所提取出的原子公式抽象化并进行关联规则学习;4)在关联规则的指导下使用原子公式对已提取出的骨架结构进行实例化,以得到可用于求解器测试的逻辑公式,对多个求解器进行差分测试。本发明解决了求解器缺陷检测中有效的测试输入难以生成的局限,基于历史缺陷用例构造新的揭错能力强的测试用例的方法为求

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116185851 A (43)申请公布日 2023.05.30 (21)申请号 202310145904.2 (22)申请日 2023.02.21 (71)申请人 南京大学 地址 210093

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