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本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置，在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据，获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓，并且根据球形校正治具(30)的中心坐标来计算球形校正治具(30)的边界面，求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体W的边界面与球形校正治具(30)的边界面一致的校正值，使用该校正值来校正被检体(W)的边界面，使用该校正后的边界面来求出被检体(W)的形状。由此，通过高精度地检测被检体的边界面来实现测量用
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112535490 A
(43)申请公布日 2021.03.23
(21)申请号 202010983851.8
(22)申请日 2020.09.18
(30)优先权数据
2019-1722
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