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- 2023-06-01 发布于四川
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本发明公开了结构缺陷识别的拓扑优化方法，该方法以待测结构有限元模型单元的伪密度为设计变量，以待测结构与含缺陷结构位移响应误差的平方为拓扑优化的目标函数，开展结构的有限元分析以获得实时的结构位移响应，通过推导目标函数关于设计变量的导数，开展缺陷识别的拓扑优化迭代求解，当目标函数收敛至最小值时即可完成缺陷识别。本发明采用拓扑优化方法实现结构的缺陷识别，将缺陷识别问题转换成反问题求解，具有严谨的数学理论。本发明可进行结构缺陷的定位和定形识别，不需要先验信息，不受缺陷数量影响，结构缺陷显示直观。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112560312 B
(45)授权公告日 2021.07.16
(21)申请号 202011491689.4 (56)对比文件
(22)申请日 2020.12.16
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