数字集成电路测试系统（标准样片法）校准规范（报批稿）.docxVIP

GJB/J××××—×××× GJB ××××—×××× PAGE 4 XXXX-XX-XX实施 XXXX-XX-XX实施 湖北省地方计量技术规范 JJF（鄂）XX—XXXX Calibration Specification for Digital Integrated CircuitTest System（Reference Chips Method）（报批稿） Calibration Specification for Digital Integrated CircuitTest System（Reference Chips Method） （报批稿） 数字集成电路测试系统（标准样片法） 校准规范 XXXX-XX-XX发布 湖 北 省 市 场 监 督 管 理 局 发 布 JJF（鄂）XX—XXXX PAGE 16 数字集成电路测试系统（标准样片法）校准规范 范围 本规范适用于采用标准样片法实现数字集成电路测试系统（以下简称测试系统）的校准。 引用文件 本规范引用了下列文件： GB/T 17574 《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规范。 术语 3.1 驱动器driver 测试系统中为被测器件工作而提供数字逻辑信号的部件。 3.2 器件电源Device Po