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一种光子计数型放射线检测器，具备单元结构，该单元结构包含基板和设置于所述基板之上且供放射线入射的外延层，在将所述基板的厚度设为tsub、将所述外延层的厚度设为tepi、将所述基板的长度设为L、将所述基板相对于所述X射线的入射方向的倾斜度设为θ(°)时，将基板的倾斜度θ设为规定的范围。外延层优选为选自SiC、Ga2O3、GaAs、GaN、金刚石、CdTe中的一种。这样的光子计数型放射线检测器优选为直接变换型。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112585503 A
(43)申请公布日 2021.03.30
(21)申请号 201980054560.6 (74)专利代理机构 永新专利商标代理有限公司
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