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本申请属于细微复杂结构材料屏蔽效能确定领域，具体涉及一种细微复杂结构材料屏蔽效能确定方法，R＝168+10lg(σr/μrf)；B＝20lg(1‑10‑0.1A)；其中，SE为细微复杂结构材料的电磁屏蔽效能；A为细微复杂结构材料的吸收损耗；R为细微复杂结构材料表面的反射损耗；B为细微复杂结构材料的多次反射修正项；t为细微复杂结构材料的厚度；f为细微复杂结构材料的入射波频率；σr为细微复杂结构材料相对于铜的电导率；σ为细微复杂结构材料的电导率，由局部细微复杂结构材料表面电磁场外推得到；σ0为铜的电
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112597623 B
(45)授权公告日 2022.08.19
(21)申请号 202011209383.5 (51)Int.Cl.
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