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本发明涉及一种制造CFET器件的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:形成双绝缘体上半导体基板,其从基部到其表面依次包括:载体基板(1)、第一电绝缘层(2a)、第一单晶半导体层(2b)、第二电绝缘层(3a)和第二单晶半导体层(3b);从所述基板的表面到第一电绝缘层(2a)形成沟槽,以形成至少一个鳍(F);在各个鳍(F)中,在第一半导体层(2b)中形成第一晶体管的沟道,并且在第二半导体层(3b)中形成与第一晶体管相反类型的第二晶体管的沟道,形成双绝缘体上半导体类型的基板的步骤包括:转移层的第一步
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112640090 A
(43)申请公布日 2021.04.09
(21)申请号 201980057027.5 G ·贝纳德
(22)申请日 2019.09.0
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