正畸头影测量分析.pptxVIP

正畸头影测量分析;简介;第3页/共130页;一、主要应用;1.研究颅面生长发育;;3.确定错牙合畸形的矫治计划;;5.外科正畸的诊断和矫治设计;10;; 患者体位：自然放松 ;投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约15cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线 ;第14页/共130页;2.头影图的描绘;第16页/共130页;17;传统X线片; 传统手描图;常用头影测量标志点;标志点;1、硬组织测量标志点;颅部标志点（5个）;;;;;;硬组织测量标志点;;上颌标志点（6个）;;;;;;;;注意：;;;;;;;;;;;;软组织测量标志点（12个）;第52页/共130页;1.基准平面：头影测量中相对稳定的平面 SN 平面（前颅底平面）：由蝶鞍点与鼻根点的连线组成 FH 平面（眼耳平面）：由耳点与眶点的连线组成 Bolton平面– Bolton点与鼻根点连线;;;;基准平面;2、测量平面;;;全颅底平面;;;;;下颌平面（MP）： 1、颏下点与下颌角下缘的切线 2、通过下颌骨下缘最低点的切线 3、下颌角点与颏顶点的连线（Go-Gn）;;;;2、软组织测量平面;;头影测量分析目的:;;上下颌骨的常用测量项目;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;面部高度测量项目;常用的头影测量分析法;T