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一种基于ATE平台的芯片测试方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-06-03 发布于四川
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一种基于ATE平台的芯片测试方法及装置.pdf

    本发明提供了一种基于ATE平台的芯片测试方法及装置，该方法包括：测试机获取测试数据，将测试数据上传到服务器；数据分析单元解析测试机上传的数据，得到并记录晶圆测试或者成品测试的测试结果；根据测试结果，计算每个测试项的优先级；根据每个测试项的优先级调整芯片测试的流程。本申请在不用删减测试项，也不用调整每个测试项的时间的前提下，降低了芯片测试的时间，提高了测试效率，同时保证了测试的准确性。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115774182 A (43)申请公布日 2023.03.10 (21)申请号 202211547423.6 (22)申请日 2022.12.05 (71)申请人 安测半导体技术（义乌）有限公司 地址

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