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一种基于光腔衰荡技术的高反射光学元件总积分散射的测量方法.pdfVIP

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  • 2023-06-03 发布于四川
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一种基于光腔衰荡技术的高反射光学元件总积分散射的测量方法.pdf

    本发明涉及一种基于光腔衰荡技术测量高反射光学元件总积分散射的方法，通过采用双通道光腔衰荡技术同步测量从高反射输出腔镜透射的和从被测高反射光学元件在一定立体角内散射的光腔衰荡信号，在两路光腔衰荡信号的衰荡时间一致时通过两路信号幅值的比值和高反射输出腔镜透过率计算得到被测高反射光学元件在该收集立体角时的散射值；改变收集立体角大小测量不同收集立体角时的散射值，获得散射值与收集立体角的关系曲线，然后将测量的关系曲线与描述高反射光学元件散射特性的散射理论进行拟合，获得被测高反射光学元件的总积分散射。该测量

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115773864 A (43)申请公布日 2023.03.10 (21)申请号 202211569422.1 (22)申请日 2022.12.08 (71)申请人 电子科技大学 地址 611731

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