一种肖特基芯片IV不良曲线的测试筛选方法.pdfVIP

下载本文档

90
0
约1.04万字
约 10页
2023-06-04 发布于四川
举报
版权申诉

一种肖特基芯片IV不良曲线的测试筛选方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

一种肖特基芯片IV不良曲线的测试筛选方法,涉及一种芯片测试工艺。测试盒给出50uA、100uA和500uA的反向电流，测试反向电压，并分别记录其反向电压数值为C、A和B；然后测试盒给出1mA的反向电流、10mA的正向电流、100mA的正向电流、1A的正向电流、3A的正向电流、5A的正向电流；计算|A‑B|的绝对值，设其绝对值为D；当数值D大于1时，IV曲线不良当数值D小于1时，IV曲线不存在异常；本发明步骤可快速、自动的对SBD芯片进行全检，降低了在客户端使用时产生曲线异常的概率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112698174 B (45)授权公告日 2022.05.27 (21)申请号 202011420743.6 CN 202471905 U,2012.10.03 (22)申请日 2