一种应用于MCU中触摸按键电容检测方法及其系统.pdfVIP

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  • 2023-06-04 发布于四川
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一种应用于MCU中触摸按键电容检测方法及其系统.pdf

本发明公开了一种应用于MCU中触摸按键电容检测方法及其系统,包括充电模块、放电模块和检测模块;所述充电模块采用时钟信号控制各开关状态的方式,将电源端与按键电容之间开关闭合,电源端对按键电容进行充电,充电完成后断开,再将按键电容与采样电容之间开关闭合,在电势差的作用下,按键电容对采样电容进行充电,从而提高采样电容的电压;所述放电模块是通过迟滞比较器控制开关状态的方式,将采样电容与限流电阻之间开关闭合,采样电容通过限流电阻对地放电,从而降低采样电容的电压;所述检测模块采用压控振荡器与计数器结合的方式

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116203411 A (43)申请公布日 2023.06.02 (21)申请号 202310070973.1 G01R 27/26 (2006.01) (22)申请日 2023.02.

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