原创力文档- 51
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- 2023-06-04 发布于四川
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本申请公开一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置，涉及集成电路设计领域。该方法包括：获取集成电路中的不可控输入寄存器，包括，根据集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器；根据第一不可控输入寄存器，确定以第一不可控输入寄存器为输入的第二输出寄存器；根据第N输出寄存器，确定以第N输出寄存器为输出的第N输入寄存器中的第N不可控输入寄存器；对不可控输入寄存器进行修复，包括：在不可控输入寄存器处分别添加可控输入寄存器，进行修复。通过分析、搜索
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112698187 A
(43)申请公布日 2021.04.23
(21)申请号 202011441931.7
(22)申请日 2020.12.08
(71)申请人 重庆百瑞互联电子技术有限公司
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