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一种基于光和绝缘电阻的遮蔽毯检测方法，将遮蔽毯铺于机体上，采用第一检测组件、第二检测组件进行检测，用第二检测组件检测各个检测点位的绝缘电阻，若各个检测点位的电阻值均大于等于1000MΩ，则遮蔽毯合格，若各个检测点位的电阻值均小于700MΩ，则遮蔽毯不合格，若任一检测点位的电阻值大于等于700MΩ，且小于1000MΩ，则采用第一检测组件检测，开启光发生器，若光接收器接收到光发生器发出的光，则遮蔽毯不合格，否则遮蔽毯合格，本发明运用第二检测组件为主，以第一检测组件为辅助验证的方式，在第一检测组件和第
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115753695 A
(43)申请公布日 2023.03.07
(21)申请号 202211504186.5 (51)Int.Cl.
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