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基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法及终端设备.pdfVIP

基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法及终端设备.pdf

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    本发明适用于传感器检测技术领域，提供了一种基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法及终端设备，其中，基于回波损耗的特高频传感器特性校验方法包括：在预设频段内按照预设数量的扫描点，测量气体绝缘开关设备的目标特高频传感器的S11或S22参数，得到目标特高频传感器的目标回波损耗曲线；获取目标回波损耗曲线和参考回波损耗曲线的相关系数；其中，参考回波损耗曲线根据预先测量出的至少一个特高频传感器的回波损耗曲线得到，至少一个特高频传感器与目标特高频传感器的类型相同；在相关系数小于预设阈值的情况下，将目标特高频传

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112731250 B (45)授权公告日 2022.07.22 (21)申请号 202011617120.8 (56)对比文件

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