测试治具及测试组件.pdfVIP

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  • 2023-06-05 发布于四川
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本公开提供一种测试治具及测试组件,其中测试治具用于支承一待测元件。该测试治具包括一基部、一框架、一凹陷部、多组电接触点以及多个电线。该框架沿着该基部的一上表面的一外周围朝上延伸。该框架与该基部的该上表面围绕该凹陷部设置,且该待测元件容置在该凹陷部中。所述多组电接触点设置在该凹陷部上,并以旋转对称方式设置,其中在该待测元件与该测试治具组装在一起之后,该待测元件的多个镀覆贯穿孔接触其中一组电接触点。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112748323 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 202011144557.4 (22)申请日 2020.10.23 (30)优先权数据 16/670,23

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