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一种基于FPGA的高精度DAC测试系统.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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一种基于FPGA的高精度DAC测试系统.pdf

    本发明公开一种基于FPGA的高精度DAC测试系统，属于半导体芯片测试领域。基于FPGA的高精度DAC测试系统，包括FPGA开发板、电源、DAC测试板、频谱分析仪、示波器和数字万用表；所述电源与所述FPGA开发板和所述DAC测试板连接，向其提供稳定电压；所述FPGA开发板向所述DAC测试板发送并行的数字信号和时钟信号，所述DAC测试板将数字信号转换成模拟量输出；所述DAC测试板分别与所述频谱分析仪、所述示波器和所述数字万用表连接，用于分析输出的模拟量。本发明采用FPGA的设计技术，能够完成数模转换

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112769434 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202011485524.6 (22)申请日 2020.12.16 (71)申请人 中国电子科技集团公司第五十八研

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