一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2023-06-06 发布于四川
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一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf

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本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像、以及待检测图像；基于模板图像、以及待检测图像，生成与待检测图像对应的蒙版图像；蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征位置与每个第一像素点匹配的第二像素点存在缺陷的异常度值；第二像素点为待检测图像中位置与第一像素点匹配的像素点；基于蒙版图像，确定待检测图像的缺陷检测结果。本公开实施例基于模板图像和待检测图像，生成待检测图像对应的蒙版图像，该蒙版图像中的每个第一像素点的像素值，表征了在待检测图像中对应位置的第二

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112750116 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 202110055119.9 (22)申请日 2021.01.15 (71)申请人北京市商汤科技开发有限公司