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- 2023-06-06 发布于四川
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一种半导体结构的形成方法,包括:提供衬底,所述衬底上形成有鳍部;在所述鳍部表面形成硅层,所述硅层覆盖所述鳍部的顶部和侧壁;对所述硅层进行氧化处理,形成栅氧化层,所述栅氧化层覆盖所述鳍部的顶部和侧壁。本发明实施例提供的半导体结构的形成方法,通过在鳍部表面形成一层额外的硅层,使得形成栅氧化层时不需要消耗太多鳍部原有的硅,避免鳍部尺寸损失,从而有利于提高半导体结构的性能。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112802740 A
(43)申请公布日
2021.05.14
(21)申请号 20191
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