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- 2023-06-06 发布于四川
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本发明公开了一种用于膜电极厚度的检测系统和检测方法，其中检测系统包括：测量平台；支架；若干个位移传感器，其与所述支架固定连接；控制模块；其中，所述控制模块还用于控制所述位移传感器沿Z轴方向移动。本发明通过设置可移动的纵梁及位移传感器，实现了多点位分布式的测量平台，同时利用控制模块和调节机构，实现了测量点位随意可调，触测顺序与保压时间可控。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112762878 A
(43)申请公布日 2021.05.07
(21)申请号 202110019029.4
(22)申请日 2021.01.07
(71)申请人 天津大学
地址 30
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