一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法.pdf

一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法,通过制备磁屏蔽材料样品,测量磁屏蔽材料的晶粒大小和复数磁导率,构建所述晶粒大小与所述复数磁导率的拟合模型,构建基于磁屏蔽材料晶粒大小的磁屏蔽装置磁场噪声分析模型,测量晶粒大小以分析磁屏蔽装置的磁场噪声,不需要对成型的磁屏蔽装置进行参数测量,可用于低噪声磁屏蔽材料的选择和设计。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115752705 A (43)申请公布日 2023.03.07 (21)申请号 202211178443.0 (22)申请日 2022.09.26 (71)申请人 北京航空航天大学 地址 10019

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