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- 2023-06-06 发布于四川
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一种微观的磁屏蔽装置磁场噪声分析方法,通过制备磁屏蔽材料样品,测量磁屏蔽材料的晶粒大小和复数磁导率,构建所述晶粒大小与所述复数磁导率的拟合模型,构建基于磁屏蔽材料晶粒大小的磁屏蔽装置磁场噪声分析模型,测量晶粒大小以分析磁屏蔽装置的磁场噪声,不需要对成型的磁屏蔽装置进行参数测量,可用于低噪声磁屏蔽材料的选择和设计。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115752705 A
(43)申请公布日 2023.03.07
(21)申请号 202211178443.0
(22)申请日 2022.09.26
(71)申请人 北京航空航天大学
地址 10019
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