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- 2023-06-06 发布于四川
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本发明提供了一种采用SOI衬底的射频晶体管的仿真模型,包括:核心器件,所述核心器件为一晶体管,包括源极、漏极、正栅、以及SOI衬底的背栅;所述核心器件的外围电路包括:栅极电阻、栅极到接触孔的电阻、源极和漏极电阻、栅极到源极的边缘电容、栅极到源极的寄生电容、栅极到漏极的边缘电容、栅极到漏极的寄生电容、埋层氧化物层电容、源端下方的埋层氧化物电容、漏端下面的埋层氧化物电容、埋层氧化物下方的阱区域的分布式电阻、衬底部分的电阻和电容、以及背栅电阻。本发明综合考虑了FDSOI衬底的特点,重新设计了一套更适合
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112765922 A
(43)申请公布日 2021.05.07
(21)申请号 202011639121.2
(22)申请日 2020.12.31
(71)申请人 中国科学院上海微系统与信息技术
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