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用于微纳光学元件的图像分割方法及自动检测方法.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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用于微纳光学元件的图像分割方法及自动检测方法.pdf

    本申请公开了一种用于识别经切割的微纳光学元件的图像分割方法，该方法包括：获取微纳光学元件及包围微纳光学元件的切割道的灰度图像，计算灰度梯度，得到灰度图像的梯度图像；以及根据梯度图像获取微纳光学元件的有效范围。本申请还公开了一种基于上述图像分割方法的微纳光学元件自动检测方法。根据本发明实施例，针对微纳光学元件及其切割道的图像特点，提出了一种能够有效提取微纳光学元件有效区域的方法，有助于提高微纳光学元件缺陷检测的效率和准确度。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112767414 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202110031362.7 (22)申请日 2021.01.11 (71)申请人 嘉兴

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