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用于调节粒子射程和测量粒子布拉格曲线的装置及方法.pdfVIP

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  • 2023-06-07 发布于四川
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用于调节粒子射程和测量粒子布拉格曲线的装置及方法.pdf

    本发明公开了一种用于调节粒子射程和测量粒子布拉格曲线的装置及方法，其中用于调节粒子射程的装置包括：样品架组以及驱动件。样品架组，包括至少一个样品架，用于固定不同厚度的样品。驱动件用于驱动样品架组中的每个样品架独立进行位置移动，使得每个样品架上的样品能够在粒子束流的照射范围和非照射范围进行切换，通过改变样品总厚度得到入射的粒子束流所需的粒子穿透深度，实现粒子射程的调节。利用本发明的装置，对不同能量的入射粒子的有效吸收剂量随穿透深度的分布进行测量，进而通过改变样品总厚度来改变粒子束流的射程，实现传能

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112834536 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 202110010148.3 (22)申请日 2021.01.05 (71)申请人 中国原子能科学研究院

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