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用于对异常识别方法进行参数化的方法以及用于对异常识别设备（90）进行参数化的辅助设备（80），其中所述异常识别设备执行所述异常识别方法，所述方法基于大量的传感器数据点来执行基于密度的聚类方法，其中所述方法包括：a）将数据空间中的每个传感器数据点（SP1、SP2、SP3）映射（S10）到像素空间中的像素数据点（PP1、PP2、PP3）中；b）通过在所述像素空间中的至少一个像素操作来模仿（S11）在所述数据空间中的基于密度的聚类方法的至少一个操作；c）针对所述基于密度的聚类方法的每个参数接收（S12
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112823319 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 201980068458.1 (74)专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公
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