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- 2023-06-07 发布于四川
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本发明公开了一种涡旋光与平面波干涉的精密角位移测量方法，基于马赫泽德干涉结构搭建光学干涉系统，当待测平面镜和参考平面镜的相对位置不再平行时，由其反射回来的两个光束再次相遇时会发生离轴干涉，产生中间具有分叉结构，周围区域等间距分布的条形干涉图样。此时待测平面镜产生微小角位移时，两束反射光之间的光程差发生变化，干涉图样也会发生相应的变化，该干涉图样包含了待测平面镜倾斜角变化的大小及方向等相关信息。使用CCD相机分别采集平面镜处于不同位置处的干涉图样，通过对干涉图样做进一步的图像处理和计算，可以得到条
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116222435 A
(43)申请公布日 2023.06.06
(21)申请号 202310237021.4
(22)申请日 2023.03.13
(71)申请人 合肥工业大学
地址 230009
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