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- 2023-06-08 发布于四川
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本发明公开了一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统，利用图论的相关理论来解决多引脚的待测器件进行二端测试时的引脚资源分配问题。可以在自动化测试中减少testbench上测试引脚资源的浪费，另一方面，可以降低空间复杂度，减少对计算机内存的消耗，并减小时间复杂度，从而进一步减少测试时间。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112858873 A
(43)申请公布日 2021.05.28
(21)申请号 202011638398.3
(22)申请日 2020.12.31
(71)申请人 杭州广立微电子股份有限公司
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