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一种集成电路的测试装置.pdfVIP

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  • 2023-06-08 发布于四川
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一种集成电路的测试装置.pdf

    本发明公开了集成电路技术领域的一种集成电路的测试装置，包括箱体、纵向滑杆、位移机构、横向滑杆和外壳，所述纵向滑杆固定连接在所述箱体的顶部左右两侧，所述位移机构滑动连接在所述纵向滑杆的外侧壁上侧，所述横向滑杆固定连接在所述位移机构的顶部，所述外壳位于所述滑杆的前侧，所述横向滑杆的前侧壁上下两侧开有第二卡槽，所述外壳的右侧壁上侧固定连接有接线端，所述外壳的内侧壁左上侧固定连接有激光发生器，所述外壳的内侧壁右上侧固定连接有光接收元件，所述光接收元件的左侧壁固定连接有第一连接板，该集成电路的测试装置，结

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112858880 A (43)申请公布日 2021.05.28 (21)申请号 202110033095.7 (22)申请日 2021.01.12 (71)申请人 安徽华为硕半导体科技有限公司

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