- 13
- 0
- 约2.39万字
- 约 29页
- 2023-06-08 发布于四川
- 举报
本发明涉及半导体技术领域,提出了一种半导体标记制作方法及半导体标记。半导体标记制作方法包括:提供周向边缘经OPC修正后的图形;在图形上裁剪出多个独立的对准段;拼接多个对准段,以形成周向边缘经OPC修正的半导体标记。通过对周向边缘经OPC修正后的图形进行裁剪后拼接,以此获得周向边缘经OPC修正的半导体标记,即可以在多个对准段拼接后即可形成周向边缘经OPC修正的半导体标记,省去了形成半导体标记后再进行OPC修正的时间,以此提高半导体标记的制作效率。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112864023 B
(45)授权公告日 2022.04.29
(21)申请号 202110016542.8 (56)对比文件
您可能关注的文档
最近下载
- 2024年北京市朝阳区高三下学期高考二模物理试卷含答案.docx VIP
- Fortinet:2025年全球威胁态势研究报告.pdf VIP
- 2026年洗发水中国功效洗护生态趋势报告.pdf
- 无人机测绘技术(微课版)01无人机测绘技术基础.pptx VIP
- 2025年无人机物流末端配送无人机行业技术标准.docx
- 2025至2030年中国磁性连接器行业市场调查研究及投资前景预测报告.docx
- 上海主会议日程安排.doc VIP
- [鲁迅故乡原文]故乡鲁迅.pdf VIP
- 【高一】高中心理健康《1生涯拍卖会》 省级优质课.pptx VIP
- 2026年重构核心,智启未来——上海银行新一代账务核心系统的转型之路报告.pptx VIP
原创力文档

文档评论(0)