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一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜.pdfVIP

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  • 2023-06-08 发布于四川
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一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜.pdf

    本发明公开了一种芯片信号测试电路，包括信号选通电路和用于控制信号选通电路的控制电路。信号选通电路设于胶囊式内窥镜内的测试芯片上，其输入端与测试芯片上的多个测试信号线一一连接，且具有单一输出端。控制电路在接收到一目标测试信号的测试指令时，控制信号选通电路将目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以实现对目标测试信号进行检测。可见，本申请可根据信号测试需求，通过信号选通方式从多个测试信号中选择相应的测试信号输出测试，从而尽可能地节约芯片外测试引脚数，有利于胶囊式内窥镜进行系统设计和硬件布局。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112858879 A (43)申请公布日 2021.05.28 (21)申请号 202110032965.9 (22)申请日 2021.01.11 (71)申请人 重庆金山医疗器械有限公司

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