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本发明公开了一种智能数字芯片出厂检测装置，属于芯片检测技术领域。一种智能数字芯片出厂检测装置，包括检测工作台，检测工作台上方后端设有电机，电机输出端套接有凸轮，凸轮前端通过销轴转动连接有活动杆，检测工作台上侧中部设有梯形调节板，限位柱上方设有转盘，转盘顶面边缘处呈环形等间距设有多个固定柱，固定柱上方设有吸盘，吸盘上方吸附有待测芯片，结构间的紧密配合，使得待测芯片可以陆续地自动进行检测，避免了将待测芯片直接放在检测台上，存在指针不能准确对芯片进行定位检测的情况，同时避免了芯片离芯片感应检测仪主体太
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112881889 A
(43)申请公布日 2021.06.01
(21)申请号 202110065266.4
(22)申请日 2021.01.18
(71)申请人 张小庆
地址 510
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