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本发明公开了一种超短超强激光装置中相干合束的单次多路同步测量方法及装置，包括，1.参考光介质反射镜；2.参考光缩束透镜；3.参考光自聚焦透镜；4.精密延迟台；5.待测光介质反射镜；6.待测光缩束透镜；7.待测光自聚焦透镜；8.光纤衰减器；9.1:n光纤分束器；10.光纤延时线；11.光纤合束器；12.多路光纤集束器；13.成像光谱仪；14.计算机。多路待测光纤光路与参考光纤光路组成的光谱干涉测量系统实现了多路待测光与参考光在相干合束前同步状态的测量。该发明充分发挥了光谱干涉作为线性测量技术数据处
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112881797 B
(45)授权公告日 2022.08.09
(21)申请号 202110031293.X CN 112130337 A,2020.12.25
(22)申请日 20
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