一种用于集成电路系统的无源性校正方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-06-09 发布于四川
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一种用于集成电路系统的无源性校正方法及装置.pdf

本发明公开一种用于集成电路系统的无源性校正方法,包括:计算S参数矢量拟合输出的各极点在各频率下的频率响应;根据各极点的所述频率响应,确定对应于所述各频率的约简的留数梯度矢量;根据所述留数梯度矢量,确定对应于所述各频率的全频率的二次项矩阵;对所述全频率的二次项矩阵进行克罗内克积运算,确定最终的二次项矩阵。本发明降低了运算过程中矩阵的维数,大大减少了运算量,并且缩短了运算时间,提高了二次项矩阵的计算效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112906335 B (45)授权公告日 2022.04.15 (21)申请号 202110299701.X (56)对比文件 (22)申请日 2021.03.22

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